Atomic Force Microscoop
-
atomaire kracht afm microscoop
Merk: NANBEI
Model：AFM
Atomic Force Microscope (AFM), een analytisch instrument dat kan worden gebruikt om de oppervlaktestructuur van vaste materialen, inclusief isolatoren, te bestuderen.Het bestudeert de oppervlaktestructuur en eigenschappen van een stof door de extreem zwakke interatomaire interactie tussen het oppervlak van het te testen monster en een microkrachtgevoelig element te detecteren.
