atomaire kracht afm microscoop
Atomic Force Microscope (AFM), een analytisch instrument dat kan worden gebruikt om de oppervlaktestructuur van vaste materialen, inclusief isolatoren, te bestuderen.Het bestudeert de oppervlaktestructuur en eigenschappen van een stof door de extreem zwakke interatomaire interactie tussen het oppervlak van het te testen monster en een microkrachtgevoelig element te detecteren.Zal een paar uiterst gevoelige micro-cantilever-uiteinde met zwakke kracht zijn, het andere uiteinde van de kleine punt dicht bij het monster, dan zal het ermee interageren, de kracht zal de micro-cantilever-vervorming of bewegingstoestand veranderen.Bij het scannen van het monster kan de sensor worden gebruikt om deze veranderingen te detecteren, we kunnen de verdeling van krachtinformatie krijgen, om de oppervlaktemorfologie van nanoresolutie-informatie en oppervlakteruwheidsinformatie te verkrijgen.
★ Geïntegreerde scansonde en monsterhert verbeterden het anti-interferentievermogen.
★ Precisielaser en sondepositioneringsapparaat maken het verwisselen van de sonde en het aanpassen van de plek eenvoudig en handig.
★ Door de naderende manier van de monstersonde te gebruiken, kan de naald loodrecht op het monsteraftasten staan.
★ Automatische pulsmotoraansturing monstersonde verticaal naderen, om een nauwkeurige positionering van het scangebied te bereiken.
★ Het interessegebied voor het scannen van monsters kan vrij worden verplaatst door gebruik te maken van het ontwerp van een mobiel apparaat met een hoge precisie.
★ CCD-observatiesysteem met optische positionering zorgt voor realtime observatie en positionering van het scangebied van de sondemonster.
★ Het ontwerp van een elektronisch besturingssysteem van modularisatie vergemakkelijkte het onderhoud en de continue verbetering van het circuit.
★ De integratie van een controlecircuit met meerdere scanmodi, werkt samen met het softwaresysteem.
★ Veerophanging die eenvoudig en praktisch verbeterd anti-interferentievermogen.
| Werk modus | FM-tapping, optioneel contact, wrijving, fase, magnetisch of elektrostatisch |
| Maat | Φ≤90mm,H≤20mm |
| Scanbereik | 20 mmin XY-richting,2 mm in Z-richting. |
| Scanresolutie | 0.2nm in XY-richting,0.05nm in Z-richting |
| Bewegingsbereik van monster: | ±6.5mm |
| Pulsbreedte van de motor nadert | 10±2ms |
| Afbeeldingsbemonsteringspunt | 256×256,512×512 |
| optische vergroting | 4X |
| optische resolutie: | 2,5 mm |
| Scansnelheid | 0,6 Hz ~ 4,34 Hz |
| Scanhoek: | 0°~360° |
| Scannen controle | 18-bits D/A in XY-richting,16-bits D/A in Z-richting |
| Gegevensbemonstering | 14 bitA / D,double16-bit A/D meerkanaals synchrone bemonstering |
| Feedback | DSP digitale feedback |
| Bemonsteringsfrequentie voor feedback | 64,0 kHz |
| Computerinterface: | USB2.0 |
| Bedrijfsomgeving | Windows98/2000/XP/7/8 |